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日立扫描电镜常用于观察微小物体
更新时间:2023-04-03      阅读:716
   日立扫描电镜(Scanning Electron Microscope,SEM)是一种高分辨率的电子显微镜技术,常用于观察微小物体的表面形貌和结构特征。与传统光学显微镜不同,SEM通过扫描样品表面并记录反射、散射电子信号来生成图像。
 
  日立扫描电镜需要使用真空环境,以避免电子受到空气分子碰撞而失去能量。电子枪向样品表面发射电子束。这些电子束与样品交互后会产生多种类型的相互作用,例如:弹性散射、非弹性散射、透射等。这些相互作用会导致电子经过样品表面时损失或改变其能量状态,从而产生不同的信号。该仪器可以探测到这些信号,并将它们转换成图像显示出来。
 
  日立扫描电镜可以获得非常高的分辨率,可以达到亚纳米级别。这使得其非常适合研究微观结构和表面形貌,如纳米材料、生物组织、半导体芯片等。还具有深度信息的优势,可以提供三维图像和表面拓扑图像,可在不同角度和深度观察样品表面结构。
 
  然而,它也有一些限制。由于需要真空环境,无法直接观察生物组织等湿润样品,需要使用特殊的样品处理方法。此外,观察时还会造成样品表面电荷的积累,并可能损伤样品表面,因此需要对样品进行金属喷镀等处理来增加导电性。
 
  总之,日立扫描电镜是一种非常强大的显微镜技术,可以提供高分辨率、深度信息和表面形貌等多种信息。它被广泛应用于材料科学、生命科学、电子工程等领域,为科学研究和工业生产提供了重要的技术支持。
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